本文標(biāo)題："由偏光顯微鏡的觀察才能看到方矽石的顯微變化"
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低溫型方矽石較為常見(jiàn)，形成于大屯火山群之矽化安山巖中，矽化嚴(yán)重者，變?yōu)榘咨淄粒浣M成由方矽石、
蛋白石、鱗矽石、明礬石和高嶺石等礦物共生，為安山巖經(jīng)熱液蝕變后的主要礦物之ㄧ。
其成因?yàn)榛鹕剿嵝詿嵋旱牧苋埽瑢⒌V物中主要陽(yáng)離子包括鈉、鈣、鉀、鎂、鐵、
鋁等淋洗所殘留的二氧化矽會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)榈鞍资头轿牡V物，因此白化后的安山巖質(zhì)地變得易脆和疏松，并且伴生有黑色的硫化物出現(xiàn)，
顯示為酸性硫酸作用后的產(chǎn)物，硫酸作用后的安山巖，
確實(shí)可以將長(zhǎng)石、輝石、角閃石等斑晶溶蝕，并形成隱晶質(zhì)的方矽石，
必須藉由偏光顯微鏡的觀察才能看到確實(shí)的蝕變現(xiàn)象，并利用X光繞射法和電子微探儀分析才能鑑定礦物組成。
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由偏光顯微鏡的觀察才能看到方矽石的顯微變化,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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