本文標(biāo)題："非接觸式測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介CCD取向式量測(cè)"
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非接觸式測(cè)頭種類
(一) 雷射位移量測(cè)：
雷射探頭量測(cè)的原理以三角法（Triangulation Method）為主，而其量測(cè)的原理與結(jié)構(gòu)，
雷射光由雷射二極體（Laser Diode）產(chǎn)生，經(jīng)聚光透鏡投射到工件表面。
(二) CCD取向式量測(cè)
由于光電產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，突破了傳統(tǒng)機(jī)械構(gòu)造的設(shè)計(jì)方式，利用數(shù)位的式CCD為基礎(chǔ)的快速視覺輪廓量測(cè)法因此產(chǎn)生。
CCD配合三種形式的雷射光源產(chǎn)生的量測(cè)方法有：?jiǎn)吸c(diǎn)雷射、線雷射和面雷射的量測(cè)方式。
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非接觸式測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介CCD取向式量測(cè),熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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