本文標題："電子顯微鏡觀察微分電容影像與表面形貌影像"
發布者：yiyi ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-1-10 23:38:34
電子顯微鏡觀察微分電容影像與表面形貌影像
電性掃描探針顯微術為納米級的電性量測分析技術，其肇始與技術研發皆源自于納米電子與光電產業的強烈需求，
但其分析結果卻因光擾效應的存在而導致極大的量測不確定度，為建立同步觀察微分電容影像與表面形貌影像之納米電性分析技術，
電性掃描探針顯微鏡的光擾問題提出一項解決方案，更進一步的意義在于使用者可以經由功能性探針的選擇，
發現新的物理現象與避免儀器設備所產生的應用限制，對于目前世界上許多已經擁有電性掃描探針顯微鏡的使用者而言，
采用前翼懸臂導電探針以避免光擾問題所帶來的困擾是相當經濟且實際的作法。
此外，光擾問題的發現，亦使儀器設備商意識到發展納米技術與追尋納米訊號的同時，仍不可忽略習知的物理知識。
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